Le microscope à force atomique Bioscope II Catalyst (Bruker) est équipé de piézos de déplacement X, Y et Z de respectivement 150, 150 et 15μm. Différentes modalités d’imagerie sont disponibles (Contact, tapping et Peak Force tapping). La spectroscopie de force est aussi utilisable (standard ramping (ramp), Force Volume (FV), Point & Shoot (P&S) et Peak Force QNM). Cet appareil est couplé à un macroscope à fluorescence. Il accepte les boîtes de Pétri mais les échantillons ne doivent PAS se trouver au centre mais dans la zone accessible à la pointe matérialisée par un trou dans le porte-échantillon.

Microscope à force atomique NanoWizard III (JPK). Cet AFM est équipé de piezos de 100x100x15μm et d’un piezo Z supplémentaire de 100μm si le microscope est utilisé en mode CellHesion. Les modalités disponibles sont : contact, contact alternatif (le mode Tapping de Bruker) et modulation de force. Il peut également travailler en spectroscopie de force selon les modes : standard ramping (ramp), Force Mapping (FM, qui correspond à Force Volume chez Bruker) et Quantitative Imaging (QI, qui ne correspond PAS à Peak Force QNM de Bruker). Ce système est équipé d’un simple zoom en lumière blanche. Pour travailler en boîte de Pétri, l’échantillon doit être centré.

Le triboindenteur TI 950 Hysitron (maintenant Bruker) est équipé d’un scanner piezo en boucle fermée (pour le mode imagerie) et deux transducteurs peuvent être utilisés : un DMA (pour l’analyse nano-mécanique dynamique, l’indentation quasi-statique et l’imagerie) et un transducteur 2D (mesure de rayure/friction, indentation quasi-statique et imagerie). Ces deux transducteurs ont une longueur de déplacement de 5μm, pour des indentations au-delà de cette limite, une platine piezo XZ500 peut alors être utilisée.

Plusieurs formes de sondes sont disponibles :

Mesures dans l’air : Berkovich

Mesures en milieu liquide : Berkovich, coin de cube à 90°, cône sectionné par un plan (plat de 100µm de diamètre) ou trois sondes sphériques (de 1, 10 et 100µm de diamètre).